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논문명/저자명
TFT LCD의 고속응답 속도달성을 위한 LC, TFT 구조 및 구동회로에 대한 연구 / 김범진 인기도
발행사항
서울 : 성균관대학교 대학원, 2007.2
청구기호
TM 621.38412 ㄱ642t
형태사항
v, 45 p. ; 26 cm
자료실
전자자료
제어번호
KDMT1200728509
주기사항
학위논문(석사) -- 성균관대학교 대학원, 전자전기공학, 2007.2
원문
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표제지

목차

제1장 서론 10

1.1. 연구 배경과 연구 내용 10

1.2. 논문의 구성 12

제2장 이론적 배경 13

2.1. TFT-LED의 구조와 동작 원리 13

2.1.1. LED (Liquid Crystal Display) 동작원리 13

2.1.2. TF7-LED (Thin Film Transistor - LCD) 구조 15

2.1.3. TFT-LCD의 동작 및 Operating Circuit 17

2.2. 액정 물성 20

2.2.1. Clearing Point 20

2.2.2. Optical Anisotropy 20

2.2.3. Dielectric Anisotropy 21

2.2.4. Rotational Viscosity 21

2.2.5. Elastic Constant 22

2.2.6. Electro - Optical Curve 23

2.3. 응답속도와 주요 인자 25

2.3.1. 응답 속도 25

2.3.2. 응답 속도의 주요 인자 - 수학적 증명 26

제3장 응답속도 향상을 위한 전압 최적화 30

3.1. Black / White 전압에 의한 응답속도 변화 30

3.2. Kickback을 고려한 Pixel에 인가되는 전압의 최적화 33

3.3.1. 공통 전극 전압에 의한 응답속도 변화 33

3.3.2. Kickback이 고려된 Black/White 전압에 의한 응답속도 변화 35

제4장 응답속도 향상을 위한 TFT 구조 최적화 38

4.1. 응답속도 파형의 Cusp 현상 38

4.1.1. Cusp 현상의 발생원인 38

4.1.2. Cusp 효과 감소를 위한 Simulation 41

4.2. Cst/Clc 비율에 따른 Cusp 현상 및 응답속도(이미지참조) 47

제5장 결론 50

참고문헌 52

Abstract 54

[표 3.1] Black 액정인가 전압 별 응답속도 32

[표 3.2] White 액정인가 전압 별 응답속도 32

[표 3.3] Flickering 별 응답속도 34

[표 3.4] White 전압은 Kickback 전압 감소량 Split 36

[표 3.5] White 전압의 Kickback 전압 감소량 Split에 따른 응답속도 및 휘도 37

[포 4.1] Cst/Clc 비율에 따른 Test Cell Split(이미지참조) 47

[표 4.2] Cst/Clc 비율에 따른 Cusp 발생 위치 및 응답속도(이미지참조) 48

[그림 2.1] Twisted Nematic LCD의 상하판 전압 차에 의한 액정의 배향 상태 및 그에 따른 빛의 진행 상태 14

[그림 2.2] TFT-LCD의 Unit Cell 구조 및 등가 회로 16

[그림 2.3] CF의 화소 배열 및 TFT Array의 등가회로 17

[그림 2.4] LCD Module Operating System Configure 18

[그림 2.5] 액정의 Elastic Constant 22

[그림 2.6] TN 및 STN액정의 V-T Curve 23

[그림 2.7] Gray별 투과율의 등간격 Graph와 V-T Curve 24

[그림 2.8] 응답속도 파형 25

[그림 3.1] 실제 모듈에서 인가 전압에 따른 투과율 Graph 31

[그림 3.2] Vcom(이미지참조) 별 응답속도 Graph 34

[그림 3.3] Flickering 에 따른 응답속도 파형 35

[그림 3.4] White 전압은 Kickback 전압 감소량 Split에 따른 응답속도 및 휘도 37

[그림 4.1] Black → White 전환시 Pixel ITO 전위와 액정이 느끼는 전위 40

[그림 4.2] White → Black 전환시 Pixel ITO 전위와 액정이 느끼는 전위 40

[그림 4.3] Rising / Falling 시 60Hz (16.7msec)에서 Cusp 발생 현상 41

[그림 4.4] Cst/Clc=0.55, Vb=4.2V일 때 Vw 의한 Cusp 발생 위치 Simulation 결과(이미지참조) 44

[그림 4.5] Vb=4.2V Vw=0.3V 일 때 Cst/Clc 비율에 의한 Cusp 발생 위치 Simulation 결과(이미지참조) 45

[그림 4.6] Cst/Clc=0.55, Vw=0.3V일 때 Vb에 의한 Cusp 발생 위치 Simulation 결과(이미지참조) 45

[그림 4.7] Cst/Clc 비율을 Split한 Test Cell 구조 47

[그림 4.8] Cst/Clc 비율에 따른 응답속도 파형과 Cusp 비교(이미지참조) 48

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