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High-resolution X-ray imaging based on pixel-structured CsI:Tl scintillating screens for indirect X-ray image sensors / Bo Kyung Cha, Dong Hoon Lee, Bonghoe Kim, Chang-Woo Seo, Sungchae Jeon, Young Huh, Jong Yul Kim, Gyuseong Cho, Youngju Kim 인기도
발행사항
Seoul : Korean Physical Society, 2011.12.16
수록지명
Journal of the Korean physical society. vol. 59 no. 6 (pt.1) (2011. 12), pp.3670-3673
자료실
[서울관] 정기간행물실(524호)  도서위치안내(서울관)
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외부기관 원문
제어번호
KINX2012026349
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We introduce the development of pixel-structured screens with a thallium-doped CsI (CsI:Tl) scintillator for indirect digital X-ray imaging sensors. The indirect-conversion detection method based on the pixel-structured CsI:Tl scintillator provides high spatial resolution X-ray imaging without sacrificing the light spread in thick scintillation layers. The scintillation screens were fabricated by using a vacuum deposition process and filling the CsI:Tl scintillating powders into a two-dimensional pixel-structured silicon array. Pixel structures with 100 μm and 50 μm pixel sizes with wall widths of 20 μm and 200 μm thickness were prepared and the fabricated CsI:Tl scintillating powders were filled into the trench of the pixel structure through a vacuum process. The final scintillation screens with 2.5 cm × 2.5 cm size were prepared and directly coupled to a CCD image sensor with an optical lens for performance evaluation of X-ray imaging. The imaging performance of the samples was investigated in terms of the relative light intensity, the X-ray linearity and the spatial resolution under practical X-ray exposure conditions. These preliminary results imply that pixel-structured CsI:Tl scintillating screens show high spatial resolution by less lateral spread of the emitted visible photons within pixel-structured silicon arrays. However, these X-ray detectors still require improved X-ray sensitivity by coating the reflective layer onto an inner silicon wall surface and filling the scintillating power into pixel structures completely.

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