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본 연구에서는 유기물 반도체인 PEDOT:PSS와 무기물 반도체인 GaN를 이용하여 하이브리드 구조를 제작하였다. 스핀 코팅 방법을 이용해 GaN 위에 다양한 두께를 가지는 PEDOT:PSS층을 제작하였고 PEDOT:PSS층의 두께에 의존하는 전류-전압 특성을 연구하였다. 단면 측정을 통해, PEDOT:PSS 층이 GaN 에피층 위에 빈틈없이 균일하게 증착되었을 뿐만 아니라, 코팅 속도가 증가함에 따라 두께가 점차적으로 감소함을 확인할 수 있었다. 또한 PEDOT:PSS가 약 125 nm의 두께 일 때 가장 좋은 다이오드 특성을 확인 할 수 있었고, 이때 캐리어의 터널링 및 소자 계면에 존재하는 결함들에 의해 큰 값을 가지는 이상계수 (n ~ 14)를 관찰 할 수 있었다.We fabricated a hybrid structure composed of an organic semiconductor poly(3,4-ethylenedioxythiophene):poly(styrenesulfonate) (PEDOT:PSS) and an inorganic semiconductor GaN. PEDOT:PSS films with various thicknesses were deposited on to an n-GaN epilayer by using a spin coater, and the dependence of the current-voltage characteristics on the thickness of the PEDOT:PSS layer was examined. The PEDOT:PSS layer was homogeneously deposited on GaN epilayer, moreover the thickness of PEDOT:PSS layer was decreased by increasing the spin speed. An optimum device characteristic with the highest current-rectifying behavior was observed when the thickness of the PEDOT:PSS layer was about 125 nm. The relatively-high ideality factor (n ~14) seemed to be associated with carrier tunneling or recombination at the hybrid interface due to the presence of various defects.
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