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목차 1
심층 신경망을 이용한 패드 표면 거칠기 기반 CMP 재료 제거율 예측 = Prediction of CMP material removal rate based on pad surface roughness using deep neural network / 정종민 ; 정선호 ; 신영일 ; 박영욱 ; 정해도 1
[요약] 1
1. 서론 1
2. 재료 제거 특성 2
2.1. 재료 제거 메커니즘 2
2.2. 공정 진행에 따른 패드 표면 열화 2
2.3. 패드의 지형학적 특성을 반영하는 핵심 파라미터 2
3. 패드 표면 거칠기 및 공정 압력에 따른 실험 3
3.1. 표면 거칠기 측정 3
3.2. 연마 및 데이터 수집 방법 3
4. 심층 신경망 예측 모델 개발 5
4.1. 신경망 이론 5
4.2. 데이터 전처리 5
4.3. 하이퍼 파라미터 최적화 5
4.4. 재료 제거율 예측 평가 6
5. 결론 6
REFERENCES 8
[저자소개] 9
번호 | 참고문헌 | 국회도서관 소장유무 |
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1 | Lee, H., Jeong, H., Dornfeld, D., (2013), Semi-empirical material removal rate distribution model for SiO2 chemical mechanical polishing (CMP) processes, Precision Engineering, 37(2), 483-490. | 미소장 |
2 | Jeon, B. J., Ha, J. M., Lee, J. M., Park, C. H., Kim, S. J., and Yoon, B, D., (2016), Chemical mechanical planarization removal rate estimation with ensemble model, Proceedings of the Korean Society of Mechanical Engineers 2016 Autumn Conference, 1398-402. | 미소장 |
3 | Lee, H., Kim, H., Jeong, H., (2021), Approaches to sustainability in chemical mechanical polishing (CMP): A review, International Journal of Precision Engineering and Manufacturing-Green Technology, 9, 349-367. | 미소장 |
4 | Yu, H.-M., Lin, C.-C., Hsu, M.-H., Chen, Y.-T., Chen, K.-W., Luoh, T., Yang, L.-W., Yang, T., Chen, K.-C., (2021), CMP process optimization engineering by machine learning, IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, 34(3), 280-285. | 미소장 |
5 | Ahn, J.-E., Jung, J.-Y., (2019), Predicting and interpreting quality of CMP process for semiconductor wafers using machine learning, The Journal of Bigdata, 4(2), 61-71. | 미소장 |
6 | Li, Z., Wu, D., Yu, T., (2019), Prediction of material removal rate for chemical mechanical planarization using decision treebased ensemble learning, Journal of Manufacturing Science and Engineering, 141(3), 031003. | 미소장 |
7 | Wang, P., Gao, R. X., Yan, R., (2017), A deep learning-based approach to material removal rate prediction in polishing, Cirp Annals, 66(1), 429-432. | 미소장 |
8 | Lee, K. B., Kim, C. O., (2020), Recurrent feature-incorporated convolutional neural network for virtual metrology of the chemical mechanical planarization process, Journal of Intelligent Manufacturing, 31(1), 73-86. | 미소장 |
9 | Zhang, L., Biddut, A., Ali, Y., (2010), Dependence of pad performance on its texture in polishing mono-crystalline silicon wafers, International Journal of Mechanical Sciences, 52(5), 657-662. | 미소장 |
10 | Prasad, Y. N., Kwon, T.-Y., Kim, I.-K., Kim, I.-G., Park, J.-G., (2011), Generation of pad debris during oxide CMP process and its role in scratch formation, Journal of the Electrochemical Society, 158(4), H394. | 미소장 |
11 | Jeong, H., Lee, H., Choi, S., Lee, Y., Jeong, H., (2012), Prediction of real contact area from microtopography on CMP pad, Journal of Advanced Mechanical Design, Systems, and Manufacturing, 6(1), 113-120. | 미소장 |
12 | Kim, S., Saka, N., Chun, J.-H., (2014), The effect of pad-asperity curvature on material removal rate in chemical-mechanical polishing, Procedia Cirp, 14, 42-47. | 미소장 |
13 | Park, K., Jeong, H., (2008), Investigation of pad surface topography distribution for material removal uniformity in CMP process, Journal of the Electrochemical Society, 155(8), H595. | 미소장 |
14 | Park, B., Lee, H., Park, K., Kim, H., Jeong, H., (2008), Pad roughness variation and its effect on material removal profile in ceria-based CMP slurry, Journal of Materials Processing Technology, 203(1-3), 287-292. | 미소장 |
15 | Lee, C., Lee, H., Jeong, M., Jeong, H., (2011), A study on the correlation between pad property and material removal rate in CMP, International Journal of Precision Engineering and Manufacturing, 12(5), 917-920. | 미소장 |
16 | Park, K., Kim, H., Chang, O., Jeong, H., (2007), Effects of pad properties on material removal in chemical mechanical polishing, Journal of Materials Processing Technology, 187, 73-76. | 미소장 |
17 | Kim, H., Kim, H., Jeong, H., Lee, E., Shin, Y., (2002), Friction and thermal phenomena in chemical mechanical polishing, Journal of Materials Processing Technology, 130, 334-338. | 미소장 |
18 | Kim, H., Kwon, D., Jeong, H., Lee, E., Shin, Y., (2003), A study on the distribution of friction heat generated by CMP process, Journal-Korean Society of Precision Engineering, 20(3), 42-49. | 미소장 |
19 | Park, K.-H., Kim, H.-J., Choi, J.-Y., Seo, H.-D., Jeong, H.-D., (2005), The effects of groove dimensions of pad on CMP characteristics, Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers A, 29(3), 432-438. | 미소장 |
20 | Jang, J.-H., Lee, D.-H., (2004), Optimization of groove sizing in CMP using CFD, Proceedings of the Korean Society of Mechanical Engineers Conference, 1522-1527. | 미소장 |
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