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1 .
- 수록정보 : ie매거진 = Industrial engineering magazine. 제31권 제3호 통권 105호 (2024. 가을), p. 13-15
- 발행사항 : 서울 : 대한산업공학회, 2024. 9. 30
- 자료이용 :
- 서울관정기간행물실(524호)
2 .
- 수록정보 : 大韓産業工學會誌 = Journal of the Korean institute of industrial engineers. 제37권 제3호 (2011년 9월), pp.234-247
- 발행사항 : 서울 : 大韓産業工學會, 2011.09.01
- 자료이용 :
- 서울관정기간행물실(524호)
3 .
- 수록정보 : 大韓産業工學會誌. 제35권 제4호 (2009년 12월), pp.226-247
- 발행사항 : 서울 : 大韓産業工學會, 2009.12.01
- 자료이용 :
- 서울관정기간행물실(524호)
4 .
- 수록정보 : Industrial engineering & management systems. vol. 7 no. 2 (Sep. 2008), pp.93-100
- 발행사항 : Seoul : The Korean institute of industrial engineers, 2008.09.30
- 자료이용 :
- 서울관해당자료 없음
5 .
국내기사
- 수록정보 : ie매거진 = Industrial engineering magazine. 제31권 제2호 통권 104호 (2024. 여름), p. 4-9
- 발행사항 : 서울 : 대한산업공학회, 2024. 6. 30
- 자료이용 :
- 서울관정기간행물실(524호)
6 .
- 수록정보 : ie매거진 = Industrial engineering magazine. 제31권 제2호 통권 104호 (2024. 여름), p. 65-71
- 발행사항 : 서울 : 대한산업공학회, 2024. 6. 30
- 자료이용 :
- 서울관정기간행물실(524호)
7 .
- 발행사항 : 파주 : 교문사, 2024
- 청구기호 : 658.5 -25-5
- 자료이용 :
- 서울관 사회과학자료실(208호) 이용현황
8 .
- 수록정보 : 대한산업공학회지 = Journal of the Korean institute of industrial engineers. 제49권 제3호 (2023년 6월), p. 276-283
- 발행사항 : 서울 : 대한산업공학회, 2023. 6. 15
- 자료이용 :
- 서울관전자자료, 정기간행물실(524호)
칩 간 공간적 유사성과 검사항목의 상관관계를 고려한 반도체 웨이퍼 테스트 데이터의 결측치 대체 방법 개발 = Development of a missing value imputation method for semiconductor wafer test data considering spatial similarity among chips and correlation between test items목차
칩 간 공간적 유사성과 검사항목의 상관관계를 고려한 반도체 웨이퍼 테스트 데이터의 결측치 대체 방법 개발 = Development of a missing value imputation method for semiconductor wafer test data considering spatial similarity among chips and correlation between test items권호기사
9 .
- 수록정보 : 品質經營學會誌 = Journal of the Korean society for quality management. 제50권 제3호 (2022년 9월), p. 617-634
- 발행사항 : 서울 : 韓國品質經營學會, 2022. 9. 30
- 자료이용 :
- 서울관정기간행물실(524호)
10 .
- 수록정보 : 品質經營學會誌 = Journal of the Korean society for quality management. 제50권 제4호 (2022년 12월), p. 679-700
- 발행사항 : 서울 : 韓國品質經營學會, 2022. 12. 31
- 자료이용 :
- 서울관정기간행물실(524호)
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