목차 1
위상잠금 적외선열화상 기법을 이용한 플라스틱(POM) 이면결함 검출에 관한 연구 = A study on the detection of defects on the back side of polyacetal using lock-in infrared thermography / 손승우 ; 김규섭 1
ABSTRACT 1
1. 서론 1
2. 이론 2
2.1. 신호 대 잡음비(SNR) 2
2.2. 위상잠금 적외선열화상(LIT) 2
3. 실험내용 및 방법 3
3.1. 시험편 3
3.2. 실험 방법 4
3.3. 실험 결과 4
4. 결론 6
REFERENCES 6