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| 번호 | 참고문헌 | 국회도서관 소장유무 |
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| 1 | M. Kuball, M. Tapajna, R. Simms, M. Faqir and U. K. Mishra, Microelectron Reliab. 51, 195 (2011). | 미소장 |
| 2 | J. A. del Alamo and J. Joh, Microelectron Reliab. 49, 1200 (2009). | 미소장 |
| 3 | M. Faqir, G. Verzellesi, G. Meneghesso, E. Zanoni and F. Fantini, IEEE Trans. Electron. Dev. 55, 1592 (2008). | 미소장 |
| 4 | G. Meneghesso, G. Verzellesi, F. Danesin, F. Rampazzo, F. Zanoni and A. Tazzoli, IEEE Trans. Dev. Mater. Rel. 8, 332 (2008). | 미소장 |
| 5 | S. Singhal, J. C. Roberts, P. Rajagopal, T. Li, A. W. Hanson and R. Therrien, in Proceedings of the IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) (San Jose, CA, USA, March 26-30, 2006), p. 95. | 미소장 |
| 6 | P. Ivo, P. Glowacki, P. Pazirandeh, E. Bahat-Treidel, R. Lossy, E. Wurfl, G. Boit and G. Trankle, in Proceedings of the IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) (Montreal, QC, USA, April 15-19, 2009), p. 26. | 미소장 |
| 7 | R. Coffie, Y. C. Chen, I. Smorchkova, M. Wojtowicz, Y. C. Chou, B. Heying and A. Oki, in Proceedings of the IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) (San Jose, CA, USA, March 26-30, 2006), p. 99. | 미소장 |
| 8 | C. Lee, L. Witkowski, H. Q. Tseng, P. Saunier, R. Birkhahn, D. Olson, G. Munns, S. Guo and B. Albert, Electron. Lett. 41, 155 (2005). | 미소장 |
| 9 | P. Makaram, J. Joh, J. A. del Alamo, T. Palacios, and C. V. Thompson, Appl. Phys. Lett. 96, 233509 (2010). | 미소장 |
| 10 | S. Y. Park, C. Floresca, U. Chowdhury, J. L. Jimenez, C. Lee, E. Beam, P. Saunier, T. Balistreri and M. J. Kim, Microelectron. Reliab. 49, 478 (2009). | 미소장 |
| 11 | U. Chowdhury, J. L. Jimenez, C. Lee, E. Beam, P, Saunier and T. Balistreri, IEEE Electron Device Lett. 29, 1098 (2008). | 미소장 |
| 12 | J. Joh and J. A. del Alamo, in Proceedings of the IEEE IEDM Technical Digest (San Francisco, CA, USA, December 11-13, 2006), p. 1. | 미소장 |
| 13 | J. Joh, L. Xia and J. A. del Alamo, in Proceedings of the IEEE IEDM Technical Digest (Washington, DC, USA, December 10-12, 2007), p. 385. | 미소장 |
| 14 | G. Meneghesso, R. Pierobon, F. Rampazzo, G. Tamiazzo, E. Zanoni and J. Bernat, in Proceedings of the IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) (San Jose, CA, USA, April 17-21, 2005), p. 415. | 미소장 |
| 15 | H. Kim, V. Tilak, B. M. Green, J. A. Smart,W. J. Schaff, J. R. Shealy and L. F. Eastman, Phys. Status Solidi C 188, 203 (2001). | 미소장 |
| 16 | A. Sozza et al., in Proceedings of the IEEE IEDM Technical Digest (Washington , DC, USA, December 5-7, 2005), p. 590. | 미소장 |
| 17 | H. Kim, R. M. Thompson, V. Tilak, T. R. Prunty, J. R. Shealy and L. F. Eastman, IEEE Electron Device Lett. 24, 421 (2003). | 미소장 |
| 18 | A. Sozza, C. Dua, E. Morvan, B. Grimber and S. L. Delage, Microelectron. Reliab. 45, 1617 (2005). | 미소장 |
| 19 | J. Lee, B. Park, H. Lee, M. Lee, K. Seo and H. Cha, Appl. Phys. Express 5, 066502 (2012). | 미소장 |
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