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This paper, we classified LED failure mechanisms that occur due to the delamination and analyzed each of the mechanism that gives the LED PKGs the effect. Usually, the LED is composed of several materials which are LED chips, gold wire, phosphor, epoxy resin, adhesive, reflector and lead frame. These different materials are usually delaminated in trouble conditions which are huge temperature difference, hot and humid or mechanical shocked. When the components are delaminated, a luminance will be lost and moisture be absorbed easily, a thermal resistance be increased attendantly. In this paper, we experimented to investigate failure mechanism of the thermal resistance and failure mechanism of the decrease of luminance that occur due to the delamination. A thermal shock test was performed to reproduce this phenomena by subjecting samples to a cold-hot cyclling process between ?30℃(15min) and 110℃(15min). The samples were inspected at 200, 600 and 1,000 cycles. We measured feature of LED using the spatial analyzer, optical microscope, thermal resistance, photometer, scanning electron microscope (SEM). As a result, the progression of the crack and the thermal resistance and decrease in luminance are proportional to number of thermal shock.

권호기사

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기사명 저자명 페이지 원문 목차
MIL-HDBK-189C의 신뢰성성장 평가 모델의 비교 김명수, 정재우, 이종신 pp.217-227

풍력발전기용 쓰러스터 브레이크의 신뢰성 평가 정동수 pp.165-174

건설장비 개발과정에서 신뢰성성장관리 적용방법에 대한 연구 소영국, 전영록, 류병진 pp.175-190

열충격 시험을 통한 LED Package의 박리재현 및 특성에 관한 연구 장인혁, 임홍우 pp.207-216

와이블 분포를 따를 때 수명성능지수의 추정과 활용 서순근 pp.191-206

QFD와 TRIZ의 통합에 의한 설계 단계에서의 창의적 문제 해결 방안 정해성 pp.153-163

참고문헌 (6건) : 자료제공( 네이버학술정보 )

참고문헌 목록에 대한 테이블로 번호, 참고문헌, 국회도서관 소장유무로 구성되어 있습니다.
번호 참고문헌 국회도서관 소장유무
1 장인혁, 한지훈, 고민지, 이영주, 임홍우 (2013), 열충격시험을 통한 LED 박리 평각법에관한 연구, 신뢰성응용연구, 제 6권, 제2호, pp. 121-124. 미소장
2 주은철(2011), LED/OLED 최신 산업동향 및 혁신기술 동향분석, BIR. 미소장
3 J. Liu, W. S. Tam, H. Wong, V. Filip. (2009), Temperature-dependent light-emitting characterisitics of InGaN/GaN diodes. Microelectronics Reliability pp. 38-41. 미소장
4 Thermal Analysis of GaN-Based Light Emitting Diodes With Different Chip Sizes 네이버 미소장
5 M. Meneghini, Tazzoli, G. Mura, G. Meneghesso, E. Zanoni. (2010), A Review on the Phisical Mechanisms That Limit the Reliability of GaN-Based LEDs. IEEE Transaction on electron device, Vol. 57, No. 1. 미소장
6 History, Development, and Applications of High-Brightness Visible Light-Emitting Diodes 네이버 미소장

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