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목차
PLD 소자의 LASAR 부품 모델링을 통한 고장 검출 = Fault detection through the LASAR component modeling of PLD devices / 표대인 ; 홍승범 1
요약 1
Abstract 1
I. 서론 2
II. 기존 PLD소자 부품 모델링 2
III. PLD 소자의 역설계 3
3-1. JEDEC 파일 추출 3
3-2. JEDEC 파일 포맷 해석 후 부울식 작성 4
3-3. 역설계 적용한 부품 모델링 4
3-4. 모의 신호 입력패턴 파일 작성 5
3-5. LASAR 자동시험 프로그램 개발 5
IV. 고장 검출율 실험 및 검토 6
4-1. 제한적 부품 모델링 성능 점검 6
4-2. 고장 삽입을 통한 고장 검출율 확인 7
V. 결론 8
References 8
[저자소개] 8
| 번호 | 참고문헌 | 국회도서관 소장유무 |
|---|---|---|
| 1 | J. W. Kim, A reliable maintenance method for electronic circuit card, M.S. dissertation, Korea University, Seoul, Korea, 2012. | 미소장 |
| 2 | Teradyne, LASAR software [Internet]. Available: http://www.teradynedefenseaerospace.com/products/ software/lasar. | 미소장 |
| 3 | J. G. Jung, Fault detection system by extracting the ROM’s data, M.S. dissertation, Hanseo University, Chungcheongnam-do, Korea, 2012. | 미소장 |
| 4 | W. J. Shim, A Study on the fault detection of ASIC using dynamic pattern test, M.S. dissertation, Hanseo University, Chungcheongnam-do, Korea, 2013. | 미소장 |
| 5 | Teradyne. Inc., LASAR 6.60 manual, 2007. | 미소장 |
| 6 | Wikipedia, Programmable logic device [Internet]. Available: https://en.wikipedia.org/wiki/pld. | 미소장 |
| 7 | DataSheet4U, Alter EP 310 [Internet]. Available: http://www.DataSheet4U.com/products/Alter EP310. | 미소장 |
| 8 | Wikipedia, Automatic test pattern generation [Internet]. Available:https://en.wikipedia.org/wiki/Automatic_test_pattern_generation. | 미소장 |
| 9 | MIL-STD-2077B, General requirement test program set, 1991. | 미소장 |
| 10 | S. W. Kim, Efficient diagnosis for multiple stuck-at faults using fault dictionary, M.S. dissertation, Yonsei University, Seoul, Korea, 2003. | 미소장 |
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