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고에너지분해능 주사투과전자현미경-최외각전자 에너지손실 분광법(STEM-VEELS)을 이용한 국소 밴드갭 측정 ＝ Local bandgap measurement using monochromated STEM-VEELS / 정희준 1

Abstract 1

1. 서론 2

2. STEM-VEELS 기반 밴드갭 측정 원리 3

3. STEM-VEELS 측정을 위한 실험 조건 3

4. ZLP 제거와 inelastic 시작점(＝bandgap) 판정 6

5. 체렌고프 복사와 유도 광 모드 억제 9

6. 대표 응용 사례 11

7. 최신 동향과 전망 17

8. 결론 18

REFERENCES 19

[저자소개] 20

초록보기

This paper outlines the fundamentals and recent advancements in monochromated Scanning transmission electron microscopy–valence electron energy loss spectroscopy (STEM-VEELS) as a tool for bandgap characterization. Particular focus is given to experimental strategies such as Zero-loss peak (ZLP) subtraction, onset detection, and mitigation of spectral artefacts including Cerenkov radiation and guided optical modes. Case studies involving quantum dots, dielectrics, and low-dimensional semiconductors are discussed to highlight the capability of STEM-VEELS to resolve local bandgap variations. Future opportunities including AI-assisted analysis and time-resolved VEELS are also addressed.

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기사명 저자명 페이지 원문 목차
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