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목차

[표제지 등]=0,1,2

제출문=1,3,1

보고서 초록=2,4,1

요약문=3,5,12

목차=15,17,3

제1장 연구 개발 개요=18,20,4

제1절 다중극한환경 발생기술 확립 및 다중극한물성 연구기반 구축=22,24,1

제2절 정밀 물성 측정기구 개발=22,24,1

1. 종합적 열물성 시스템 확립=22,24,2

2. 종합적 자성 측정 시스템 확립=23,25,1

제3절 다중극한환경 물성연구=23,25,2

제2장 국내외 기술개발 현황=25,27,2

제1절 다중극한환경 발생기술=27,29,1

제2절 정밀 물성 측정기구 개발=27,29,1

1. 종합적 열물성 시스템 확립=28,30,1

2. 종합적 자성 측정 시스템 확립=28,30,2

제3장 연구개발수행 내용 및 결과=30,32,1

제1절 다중극한환경 발생기술 확립 및 다중극한물성 연구기반 구축=30,32,1

1. 전기적 수송특성 측정용 정수압 압력셀의 개발 및 시스템 통합화=30,32,6

2. 자성측정용 정수압 발생 압력셀의 개발과 시스템 통합화=36,38,5

3. 고압력하 유전율 측정장치 개발과 시스템 통합화=41,43,5

4. 비열측정용 압력셀 개발과 9 T 물성측정시스템에 통합=46,48,2

5. 10 GPa급 준정수압 발생 Anvil Cell 실험장치 개발=48,50,2

제2절 정밀 물성 측정기구 개발=50,52,1

1. 종합적 열물성 측정 시스템 확립=50,52,1

가. 극저온환경 열전ㆍ자기적 효과 측정기구 개발=50,52,10

나. 극저온 환경 정밀 비열 측정기구 개발=60,62,10

다. 열전도도 측정기구 개발=70,72,5

라. 열적ㆍ자기적 팽창계수 측정기구 개발=75,77,13

마. 전자기적 특성의 응력 효과 측정 기구의 개발=88,90,3

2. 종합적 자성 측정 시스템 확립=91,93,1

가. 국소 홀 소자 어레이 시스템=91,93,12

나. 20 테슬라 고자기장 환경 자성측정 시스템 개발=103,105,6

다. 자기 이방성 연구 시스템=109,111,11

라. Fiber Optic을 이용한 Photo-Magnetism 측정기술 개발=120,122,7

마. 양자간섭계를 이용한 극저온 자성측정기구 개발=127,129,7

3. 새로운 물성분석 기술 개발=134,136,1

가. Sanning Hall Probe Microscope 시스템 개발=134,136,6

나. Break-Junction을 이용한 터널링 분광장치 개발과 저온시스템에 통합=140,142,5

제3절 다중극한환경 물성연구=145,147,1

1. 압력과 자기장을 이용한 CeSbNix(0.0≤x≤0.35)의 자기적 성질 연구(이미지 참조)=145,147,13

2. 높은 압력에서의 자성측정을 통한 Pyrochlore 화합물의 자기적 특성 연구=158,160,5

3. 높은 압력 자성측정을 통한 Spinel 화합물의 상전이 연구=163,165,9

4. La2-2xSr1+2xMn2O7(x＝0.35, x＝0.45)의 자기이방성 연구(이미지 참조)=172,174,10

5. Infinite Layer Superconductor의 압력에 따른 초전도 특성연구=182,184,5

6. 초전도물질인 Lu5Ir4Si10과 자기물질인 Er5Ir4Si10가 공통적으로 가지는 전하밀도파 상태의 자기장 및 압력 효과 연구(이미지 참조)=187,189,4

7. CeTe1.82 화합물의 압력하 전ㆍ자기적 물성 측정을 통해 자기적 질서의 압력변화와 새로운 초전도현상 관찰(이미지 참조)=191,193,4

8. Ni Nano Particle의 자성 및 국소구조에 관한 연구=195,197,8

9. MgB₂ 박막에서 임계전류밀도의 Scaling에 대한 Two Band의 효과 연구=203,205,4

제4장 연구개발목표 달성도 및 대외기여도=207,209,4

제5장 연구개발결과의 활용계획=211,213,3

제6장 참고문헌=214,216,7

영문목차

[title page etc.]=0,1,8

Summary=7,9,5

Contents=12,14,6

Chapter 1. Introduction=18,20,4

Section 1. Establishment Of Multi-Extreme Condition Generation Technique-The Basis For Material Science Under Multi-Extreme Conditions=22,24,1

Section 2. Development Of High Sensitivity Measurement Systems=22,24,1

1. Complete Thermal Properties Measurement Systems=22,24,2

2. Multi-Faceted Magnetic Properties Measurement Systems=23,25,1

Section 3. Material Science Under Muiti-Extreme Physical Conditions=23,25,2

Chapter 2. Current Status=25,27,2

Section 1. Multi-Extreme Condition Generation Technique=27,29,1

Section 2. Development Of High Sensitivity Measurement Systems=27,29,1

1. Thermal Property Measurement Systems=28,30,1

2. Magnetic Property Measurement Systems=28,30,2

Chapter 3. Scope And Results=30,32,1

Section 1. Establishment Of Multi-Extreme Condition Generlation Technique-The Basis For Material Science Under Multi-Extreme Conditions=30,32,1

1. Development Of Pressure Cell For Electrical Transport Measurement And System Integration To Multi-Extreme Condition=30,32,6

2. Development Of Pressure Cell For Magnetic Property Measurement And Multi-Extreme Condition Set-Up=36,38,5

3. Development Of Dielectric Property Measurement System Under High Pressure And System Integration To High Magnetic Field Environment=41,43,5

4. Development Of Pressure Cell For Specific Heat Measurement And System Integration=46,48,2

5. Development Of 10 GPa Anvil Cell Experimental System=48,50,2

Section 2. Development Of High Sensitivity Measurement Systems=50,52,1

1. Complete Thermal Property Measurement Systems=50,52,1

A. Ultra-Low Temperature Thermo-Electromagnetic Effects Measurement Apparatus=50,52,10

B. Ultra-Low Temperature Specific Heat Measurement Apparatus=60,62,10

C. Development Of Thermal Conductivity Measurement Apparatus=70,72,5

D. Thermal Expansion And Magneto-Strain Effects Measurement System=75,77,13

E. Development Of Stress Effect Measuring Apparatus=88,90,3

2. Multi-Faceted Magnetic Property Measurement Systems=91,93,1

A. Micro Hall Probe Array System=91,93,12

B. Magnetic Properties Measurement System Working At 20 Tesla=103,105,6

C. Magnetic Anisotropy Measurement System=109,111,11

D. Photomagnetism Measurement System Using Fiber Optic=120,122,7

E. Low Temperature Magnetometer Using Superconducting Quantum Interference Device=127,129,7

3. New Physical Property Measurement Methods=134,136,1

A. Scanning Hall Probe Microscope System=134,136,6

B. Tunnelling Spectroscopy System Using Break Junction Method And System Integration To Low Temperature Condition=140,142,5

Section 3. Material Science Under Multi-Extreme Physical Conditions=145,147,1

1. Magnetic Properties Of CeSbNix(0.0≤x≤0.35) Under At Pressure And High Magnetic Field(이미지 참조)=145,147,13

2. Magnetic State Of Pyrochlore Compounds Studied By High Pressure Magnetizaion Measurements=158,160,5

3. Study Of Magnetic Phase Transition Of Spinel Compounds By High Pressure Magnetizaion Measurements=163,165,9

4. Magnetic Anisotropy Of La2-2xSr1+2xMn2O7(x＝0.35, x＝0.45)(이미지 참조)=172,174,10

5. Pressure Dependent Superconducting Properties Of Infinite Layer Superconductor=182,184,5

6. Magnetic-Field And Pressure Effects On Charge-Density-Wave, Superconducting And Magnetic States Of Lu4Ir4Si10 And Er5Ir4Si10=187,189,4

7. High Pressure Study Of Superconductivity In Magnetically Ordered CeTe1.82=191,193,4

8. Magnetic Properties And Local Structure Of Ni Nano Paricles=195,197,8

9. Effects Of Two Bands On The Scaling Of Critical Current Density Of MgB2 Thin Films=203,205,4

Chapter 4. Achievement And Contribution=207,209,4

Chapter 5. Proposal For Application=211,213,3

Chapter 6. References=214,216,7

칼라목차

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그림 1-1. 다중극한환경(Multi-Extreme Condition)이란 물성연구에서 중요한 세 가지 기본적인 열역학적 변수인 자기장, 온도 및 압력을 일상 생활에서 접할 수 없는 수준의 고자기장ㆍ극저온ㆍ초고압으로 발생시켜 통합한 상태를 의미한다=19,21,1

그림 4-1. 거대자기저항 물질, La0.7Ca0.3MnO3의 온도와 자장에 따른 열기전력의 변화(이미지 참조)=51,53,1

그림 4-13. 초전도체 Nb의 비열의 온도 및 자기장 의존성=68,70,1

그림 6-43. EXAFS 실험 결과=202,204,1

그림 6-45. 35 K에서 Jc의 Scaling Behavior(이미지 참조)=206,208,1

그림 6-46. 10 K에서 Jc의 Scaling Behavior(이미지 참조)=206,208,1

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다중극한환경하 물성분석 기술 개발. 2 이용현황 표 - 등록번호, 청구기호, 권별정보, 자료실, 이용여부로 구성 되어있습니다.
등록번호 청구기호 권별정보 자료실 이용여부
0001078792 537.5 ㄱ373ㄷ v.2 서울관 서고(열람신청 후 1층 대출대) 이용중
0001078793 537.5 ㄱ373ㄷ v.2 서울관 서고(열람신청 후 1층 대출대) 이용중

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