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[표지] 1

제출문 2

기술개발사업 최종보고서 초록 3

기술개발사업 주요 연구성과 9

국문 요약문 13

목차 16

제1장 서론 20

제1절 개발기술의 중요성 및 필요성 20

1. 개발 대상 기술·제품 개요 20

2. 개발 대상 기술·제품의 중요성과 파급효과 21

제2절 국내‧외 관련 기술 및 시장의 현황 22

1. 국내·외 기술 현황 22

2. 국내·외 시장 현황 22

3. 국내·외 경쟁기관 현황 23

4. 국내·외 지식재산권 현황 23

5. 국내·외 표준화 현황 23

제3절 기술개발 시 예상되는 기술적‧경제적 파급효과 23

1. 기술적 파급효과 23

2. 경제적 파급효과 24

제2장 기술개발 내용 및 방법 25

제1절 최종 목표 및 평가 방법 25

1. 최종 목표 25

2. 개발기술의 평가 방법 및 평가 항목 26

3. 정량적 목표 항목의 평가방법 및 평가환경 26

4. 정량적 성과 목표 (목표치/달성치) 27

제2절 연차별 개발 내용 및 개발범위 28

1. 개발 목표 28

2. 개발 내용 및 개발범위 28

제3장 결과 및 향후 계획 31

제1절 연구개발 결과 31

1. 연차 연구개발 추진 일정 31

2. 연차 연구개발 추진 실적 31

3. 기술개발 결과의 유형 및 무형 성과 79

제2절 연구개발 추진 체계 (각 기관/기업별 역할 및 추진 내역) 86

1. 연구개발 추진 방법·전략 86

2. 연구개발 추진 체계 86

3. 연구개발팀 편성도 87

제3절 시장현황 및 사업화 전망 88

1. 국내·외 시장 규모 88

2. 국내 수출·입 현황 89

제4절 사업비 사용현황 93

제5절 연구개발결과의 활용계획 95

별첨 97

[별첨 1] 자체평가서[내용누락;p.78-81] 97

[별첨 2] 자체보안관리진단표 98

표목차 18

(표 1) Zing 칩 적용이 가능한 기술 시장규모 22

(표 2) 개발기술의 평가 항목 26

(표 3) 정량적 성과 목표 27

(표 4) 연차 연구개발 추진 일정 31

(표 5) USB 제어 보드 인터페이스 핀 설명 35

(표 6) USB 제어 보드 시험용 포트 35

(표 7) S-Parameter @ Impedance 38

(표 8) 소켓보드 인터페이스 핀 설명 40

(표 9) 스위치보드 인터페이스 핀 설명 41

(표 10) FX3 Boot Mode 구성 42

(표 11) FX3 클럭 핀 설정 43

(표 12) SPDT 제어신호 동작 44

(표 13) SP4T 제어신호 동작 45

(표 14) 비트 스트림 분배 스위치 인터페이스 핀 설명 47

그림목차 18

(그림 1) 양산 준비 중인 Zing Chip 사진 20

(그림 2) 소켓 예시(왼쪽)와 시험보드 예시 (오른쪽) 20

(그림 3) 개발 예상 Zing 칩(송신) 자동 시험 시스템 블록도 30

(그림 4) 개발 예상 Zing 칩(수신) 자동 시험 시스템 블록도 30

(그림 5) 자동 시험 시스템 Block Diagram 32

(그림 6) 소켓 Block Diagram 34

(그림 7) 소켓 보드 회로도 36

(그림 8) 밀리미터파대역 소켓 보드 형상 37

(그림 9) Insertion Loss 37

(그림 10) Return Loss 38

(그림 11) Impedance 38

(그림 12) USB 제어보드 Block Diagram 39

(그림 13) FX3 주변 인터페이스 회로도 41

(그림 14) FX3 메인 인터페이스 회로도 42

(그림 15) 펌웨어 다운로드 화면 43

(그림 16) USB 제어 보드 형상 43

(그림 17) 스위치 연결 보드 케넥터 회로도 45

(그림 18) 커넥터 보드 형상 46

(그림 19) 비트스트림 분배 스위치 Block Diagram 46

(그림 20) 비트스트림 분배 스위치 커넥터 보드 회로도 48

(그림 21) 비트스트림 분배 스위치 보드 형상 48

(그림 22) 자동 시험 시스템 신호 흐름도 51

(그림 23) 자동 시험 시스템 케이블 결선 53

(그림 24) 전체 시스템 검증시험 환경 54

(그림 25) RF Transmit Power 54

(그림 26) RX Sensitivity and Dynamic Range 신호 흐름도 55

(그림 27) Measured Result of BERT 56

(그림 28) RX Eye Diagram 56

(그림 29) RX Jitter Analysis 57

(그림 30) Data Latency @ Only RF TX to RF RX 57

(그림 31) VCO LDO 58

(그림 32) Transmit Signal PSD 59

(그림 33) RF Path Loss 60

(그림 34) Revised RF Path Loss (+Power Amplifier) 61

(그림 35) 소프트웨어 구조 62

(그림 36) 기능 블록도 63

(그림 37) BERT Server SW 및 프로그램 화면[그림없음] 19

(그림 38) 자동시험 기능 SW 및 프로그램 화면[그림없음] 19

(그림 39) 무선구간 최대 전송속도 측정 SW 및 프로그램 화면[그림없음] 19

(그림 40) 무선구간 비트 오류율 측정 SW 및 프로그램 화면[그림없음] 19

(그림 41) 레지스터 액세스 동작 SW 및 프로그램 화면[그림없음] 19

(그림 42) USB 인터페이스 동작 SW 및 프로그램 화면[그림없음] 19

(그림 43) 고정/가변 패킷 전송 가능여부 확인 SW 및 프로그램 화면[그림없음] 19

(그림 44) 레지스터 제어 SW 및 프로그램 화면[그림없음] 19

(그림 45) 소켓 및 소켓보드 제작품, 운용 소프트웨어[그림없음] 19

(그림 46) Cypress-GLS NDA 문서[그림없음] 19

(그림 47) 삼성전자-GLS NDA 문서[그림없음] 19

(그림 48) Seagate-GLS NDA 문서[그림없음] 19

(그림 49) Foxconn-GLS NDA 문서[그림없음] 19

(그림 50) LG-GLS NDA 문서[그림없음] 19

(그림 51) MWC2018-USA 전시회 참가[그림없음] 19

(그림 52) MWC2019 전시회 참가[그림없음] 19

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