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AFM에서의 미세 힘 측정의 원리 및 응용 / 구자용 ; 김달현 1
1. 서론 1
2. AFM의 작동 원리 2
3. 미세 변이 측정 3
4. 실리콘 공정에 의한 AFM 탐침 제작 4
5. 미세 힘의 측정 4
6. 결론 5
참고문헌 6
권호기사
참고문헌 (5건) : 자료제공( 네이버학술정보 )
| 번호 | 참고문헌 | 국회도서관 소장유무 |
|---|---|---|
| 1 | Computer simulation of local order in condensed phases of silicon  |
미소장 |
| 2 | Microfabrication of cantilever styli for the atomic force microscope |
미소장 |
| 3 | 7 × 7 Reconstruction on Si(111) Resolved in Real Space |
미소장 |
| 4 | Scanning tunneling microscopy—from birth to adolescence |
미소장 |
| 5 | Atomic Force Microscope |
미소장 |
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