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연 x선 광흡수 분광법(soft x-ray absorption spectroscopy: XAS)과 연 x선 자기 원편광 이색성(soft x-ray magnetic circular dichroism: XMCD)을 이용하여 스피넬 준강자성 산화물인 FeV_(2)O₄의 전자 구조를 연구하였다. Fe 2p XAS와 V 2p XAS 측정으로 부터 FeV_(2)O₄에서 Fe 이온과 V이온의 고유한 원자가는 각각 약 Fe^(2.3+)의 혼합원자가 상태와 약 V3+의 상태임을 알 수 있었다. 실험적으로 측정된 Fe 2p XMCD의 신호는 거의 Fe^(2+) 상태에서 기인하였으며, Fe^(3+) 상태는 Fe 2p XMCD의 신호에 거의 기여하지 않는다는 사실이 발견되었다. 그러므로 FeV_(2)O₄의 자성 특성을 결정함에 있어서 자기적으로 정렬된 Fe^(2+) 상태 이온들이 중요한 역할을 한다고 생각된다.

The electronic structure of ferrimagnetic spinel oxide of FeV_(2)O₄ has been investigated by employing soft x-ray absorption spectroscopy (XAS) and soft x-ray magnetic circular dichroism (XMCD). The Fe 2p and V 2p XAS spectra show that the valence states of Fe and V ions are ~Fe^(2.3+) mixed-valent states and ~V^(3+) states, respectively. In Fe 2p XMCD spectra, finite XMCD signals are observed for divalent Fe^(2+) states only, but not for Fe3+ states. This finding indicates that the magnetic moments of Fe2+ ions are ordered ferromagnetically but that those of Fe^(3+) ions are cancelled, implying that Fe2+ ions play an important role in determining magnetic properties of FeV_(2)O₄.

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기사명 저자명 페이지 원문 목차
전기도금법으로 제작한 두께가 다른 CoPt 자성막의 자화역전과 자기역전 부피 김현수, 정순영, 이창형, 서수정 pp.193-197

방사광을 이용한 FeV₂O₄스피넬 산화물의 덩치상태와 분말상태의 전자구조 차이 연구 황지훈, 김대현, 이은숙, 강정수, 김우철, 김철성, 한상욱, 홍순철, 박병규, 김재영 pp.198-203

수직 자기 이방성을 갖는 Pt/Co/Pt 자성 박막의 세차 운동 측정 및 분석 윤상준, 이재철, 최석봉, 신경호 pp.204-207

^55^Mn이 첨가된 SrTiO₃단 결정의 광 전이 특성연구 배규찬, 박정일, 이형락 pp.208-213

MgO(100) 기판 위에 증착된 Ag/CoFeB 박막의 스퍼터링 조건에 따른 미세성장구조 변화 연구 전보건, 정종율, Hirokazu Takahashi, Masakiyo Tsunoda, Migaku Takahashi pp.214-218

낮은 정자기장 하에서 프리모 시스템 산알의 운동특성 연구 이상석, 소광섭 pp.219-224

나노 연/경자성 분말 재료를 이용한 Exchange-coupling 자석의 제조 기술 김종렬, 조상근, 전광원 pp.225-230

X-선 자유전자 레이저를 위한 새로운 과학 구태영 pp.231-236

참고문헌 (12건) : 자료제공( 네이버학술정보 )

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번호 참고문헌 국회도서관 소장유무
1 T. Katsufuji, T. Suzuki, H. Takei, and M. Shingu, J. Phys. Soc. Jpn. 77, 053708 (2008). 미소장
2 M. Tanaka, T. Tokoro, and Y. Aiyama, J. Phys. Soc. Jpn. 21 262 (1966). 미소장
3 M. Wakihara, Y. Shimizu, and T. Katsura, J. Solid State Chem. 3, 478 (1971). 미소장
4 S. Nishihara, W. Doi, H. Ishibashi, and Y. Hosokoshi, J. Appl. Phys. 107, 09A504 (2010). 미소장
5 F. M. F. de Groot, J. C. Fuggle, B. T. Thole, and G. A. Sawatzky, Phys. Rev. B 42, 5459 (1990). 미소장
6 G. van der Laan and I. W. Kirkman, J. Phys.: Condens. Matter 4, 4189 (1992). 미소장
7 C. T. Chen, Y. U. Idzerda, H.-J. Lin, N. V. Smith, G. Meigs, E. Chaban, G. H. Ho, E. Pellegrin, and F. Sette, Phys. Rev. Lett. 75, 152 (1995). 미소장
8 T. J. Regan, H. Ohldag, C. Stamm, F. Nolting, J. Lûning, J. Stõhr, and R. L. White, Phys. Rev. B 64, 214422 (2001). 미소장
9 TEY 방법으로측정하는 XAS와 XMCD 실험의탐사깊이(probing depth)는 100 Å 이하이므로, XAS와 XMCD는표면에 다소민감한실험에속한다. 미소장
10 M. Abbate, H. Pen, M. T. Czyiyk, F. M. F. de Groot, and J. C. Fuggle, Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 62, 181 (1993). 미소장
11 M. Abbate, F. M. F. de Groot, and J. C. Fuggle, Phys. Rev. B 43, 7263 (1991). 미소장
12 J.-S. Kang, G. Kim, H. J. Lee, D. H. Kim, H. S. Kim, J. H. Shim, S. Lee, H. Lee, J.-Y. Kim, B. H. Kim, and B. I. Min, Phys. Rev. B 77, 0345121 (2008). 미소장

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