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| 번호 | 참고문헌 | 국회도서관 소장유무 |
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| 1 | A new technique for the automatic measurement of high value resistors  |
미소장 |
| 2 | Forest K. Harris, "Electrical Measurements", Robert E. Krieger Publishing Company, 1975. | 미소장 |
| 3 | Fluke, "Calibration: Philosophy in Practice" Second Edition, 1994. | 미소장 |
| 4 | KEITHLEY, “6th Edition, Low Level Measurements Handbook”, 2006. | 미소장 |
| 5 | Jack C. Riley, "The Accuracy of Series and Parallel Connections of Four-Terminal Resistors," IEEE Trans. Instrum. Meas., vol. IM-16, No. 3, pp. 258-268, 1968 | 미소장 |
| 6 | DC conductivity measurements in the Van der Pauw geometry |
미소장 |
| 7 | Ernest Houtzager and Gert Rietveld, “Automated Low-Ohmic Resistance Measurements at the μΩ/Ω Level,” IEEE Trans. Instrum. Meas., vol. 56, no. 2, pp. 406–409, Apr. 2003 | 미소장 |
| 8 | ISO/IEC GUIDE 98-3:2008, Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995). | 미소장 |
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