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본 연구에서는 기존의 열영상 측정 장치에 비해 위상잠금기법을 채용한 열영상 측정 장치의 온도분해능이 얼마나 향상될 수 있는지를 평가하기 위해 흑체시스템과 마이크로 레지스터 시편을 이용한 실험을 수행하여 개선된 온도분해능을 확인하였다. 일반적으로 적외선 열영상 측정 장치의 노이즈 수준 또는 온도분해능은 연속적으로 측정된 열영상의 픽셀별 온도의 평균과 각각의 측정값의 편차에 대한 제곱의 평균으로 정의되는 잡음등가온도차(noise equivalent temperature difference, NETD)라는 척도를 이용하여 평가되고 있다. 하지만 위상잠금 열영상 기법을 적용하면 더욱 편리한 방법을 이용할 수 있는데 이는 측정된 열영상 신호의 위상과는 무관한 온도의 진폭에 관한 정보를 이용하는 것이다. 연구결과를 통해 알 수 있듯이, 위상잠금 기법을 적용하게 되면 측정된 신호의 온도분해능 성능을 보여주는 잡음등가온도차가 크게 향상되었으며 이는 위상잠금기법이 내부적으로 수행하는 평균화 작업과 필터링 기능 때문인 것으로 판단되고 있다.

In this study, we analyzed and showed the enhanced thermal resolution of a lock-in infrared thermography system by employing a blackbody system and micro-register sample. The noise level or thermal resolution of an infrared camera system is usually expressed by a noise equivalent temperature difference (NETD), which is the mean square of the deviation of the different values measured for one pixel from its mean values obtained in successive measurements. However, for lock-in thermography, a more convenient quantity in the phase-independent temperature modulation amplitude can be acquired. On the basis of results, it was observed that the NETD or thermal resolution of the lock-in thermography system was significantly enhanced, which we consider to have been caused by the averaging and filtering effects of the lock-in technique.

권호기사

참고문헌 (17건) : 자료제공( 네이버학술정보 )

참고문헌 목록에 대한 테이블로 번호, 참고문헌, 국회도서관 소장유무로 구성되어 있습니다.
번호 참고문헌 국회도서관 소장유무
1 P. K. Kuo, T. Ahmed, H. Jin and R. L. Thomas, "Phase-locked image acquisition in thermography," Proc. SPIE, 1004, pp. 41-47(1988) 미소장
2 D. Wu and G. Busse, "Lock-in thermography for nondestructive evaluation of materials,"Revue Generale de Thermique, Vol. 37, No. 8, pp. 693-703 (1998) 미소장
3 Microscopic lock-in thermography investigation of leakage sites in integrated circuits 네이버 미소장
4 A. Orozco, J. Gaudestad, N. E. Gagliolo, C. Rowlett and E. Wong, "3D magnetic field imaging for non-destructive fault isolation,"Conference Proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3-7, San Jose, California, USA, pp. 189-193 (2013) 미소장
5 F. Infante, P. Perdu and D. Lewis, "Magnetic microscopy for 3D devices: Defect localization with high resolution and long working distance on complex system in package,"Microelectronics Reliability, Vol. 49, No. 9-11, pp. 1169-1174 (2009) 미소장
6 Application of lock-in thermography for failure analysis in integrated circuits using quantitative phase shift analysis 네이버 미소장
7 S. Christian, A. Frank, S. Rudolf and D. Herve, “Non-destructive defect depth determination at fully packaged and stacked die devices using lock-in thermography,” 17th IEEE International Symposium on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), July 5-9, Singapore, pp. 1-5 (2010) 미소장
8 C. H. Oxley, R. H. Hopper and G. A. Evans, "Improved infrared(IR) microscope measurements for the micro-electronics industry," Electronics System-Integration Technology Conference, September 1-4, Greenwich, pp. 215-218 (2008) 미소장
9 Thermal wave imaging with phase sensitive modulated thermography 네이버 미소장
10 Lock-in contact thermography investigation of lateral electronic inhomogeneities in semiconductor devices 네이버 미소장
11 D. Wu and G. Busse, "Lock-in thermography for nondestructive evaluation of materials,"Revue Generale de Thermique, Vol. 37, No. 8, pp. 693-703 (1998) 미소장
12 D. Wu, A. Salerno, B. Schonbach, H. Hallin H and G. Busse, Phase-sensitive modulation thermography and its applications for NDE, An International Conference on Thermal Sensing and Imaging, April 21, Orlando, FL, USA, Vol. 3056, pp. 176-182 (1997) 미소장
13 Quantitative determination of a subsurface defect of reference specimen by lock-in infrared thermography 네이버 미소장
14 Quantitative evaluation of shunts in solar cells by lock‐in thermography 네이버 미소장
15 Responsivity and Noise Evaluation of Infrared Thermal Imaging Camera 소장
16 Application of infrared lock-in thermography for the quantitative evaluation of bruises on pears 네이버 미소장
17 O. Breitenstein and M. Langenkamp, “Lock-in Thermgraphy - Basics and Use for Functional Diagnostics of Electronic Components," Springer, Heidelberg, (2003) 미소장